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- x荧光光谱仪
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EDX-1800x荧光光谱仪,能量色散X射线荧光光谱仪应用于RoHS & WEEE指令分析、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量、卤素指令Cl元素分析、矿石、原材料成份分析等、磁性磁性介质和半导体以及各种合金、贵金属成份分析.
x荧光光谱仪主要特点
●分析元素范围 S-U●分析元素的浓度范围 2ppm—100%
●整机稳定性连续8小时测RSD<0.25%
● ROHS/WEEE检测时间100-120秒●美国进口电制冷Si(Pin)探测器
●电制冷Si(Pin)探测器 晶体面积15mm2分辨率<155eV
●全数字脉冲处理器技术●优异的峰背比、*的痕量分析灵敏度
● 50KV,50W自防护X-射线管
●复合滤光片智能切换技术
产品特征:
☆可分析精确分析氯元素和油漆中的铅
☆集成FP法,Alpha系数法、经验系数法
☆安全联动装置,软硬结合的辐射设计
☆操作简单、一键式操作
☆智能软件自动参数设定和选择滤光片
☆ X射线管超温保护
☆电子冷却,无需液氮和其它耗材
技术规格
仪器型号
EDX-1800
分析原理
能量色散X射线荧光分析法
分析范围
S(16)-U(92)任意元素
检出下限
Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
样品形状
任意大小,任何不规则形状
样品类型
塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等
X射线管
靶材
钼(Mo)靶
管电压
5─50KV
管电流
1─1000uA
探测器
美国AMP-TEK Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统
高压发生器
美国SPELLMAN高压发生器
滤光片
智能滤光片自动选择并自动转换
样品观察
500万彩色摄像机
分析软件
*升级
分析方法
Alpha系数法(NBS-GSC法)、FP法、标准曲线法
符合规范
IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006