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- X射线荧光edx3600k分析仪
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X射线荧光edx3600k分析仪产品介绍
X射线荧光分析仪测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
含量范围:ppm~99.99%
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境:超真空系统,10秒可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以
准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10秒可到10Pa
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:*的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KGX射线荧光edx3600k分析仪产品特点
1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
2. 测试精度更高,检出限更低
3. 分析速度更快,从第1秒即可得到定性定量结果
4. 一键式智能化操作
5. 强大的自动化功能
6. 强度校正法
7. 完善的光路系统
8. 三重安全防护功能
9. 安全警示系统